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AUTOANALYZER, FAILURE CAUSE ANALYSIS SUPPORT METHOD FOR AUTOANALYZER, AND FAILURE CAUSE ANALYSIS SUPPORT PROGRAM

机译:自动分析仪,自动分析仪的故障原因分析支持方法以及故障原因分析支持程序

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an autoanalyzer for achieving speedup of occurrence cause analysis performed by a user when a failure occurs without complicating its structure, a failure cause analysis support method for the autoanalyzer, and its program.;SOLUTION: If the failure occurs in this autoanalyzer used for analyzing components of a specimen by reacting the specimen with a reagent, the autoanalyzer displays its occurrence spot and then displays a cause candidate which is a candidate for the cause of occurrence corresponding to the failure. If a conformity input is done showing that the displayed cause candidate is the cause of occurrence, this autoanalyzer displays a handling method for the cause of occurrence.;COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种自动分析仪,用于实现故障发生时用户执行的加速原因分析,而又不使其结构复杂化;该自动分析仪的故障原因分析支持方法及其程序。在用于通过使样本与试剂反应来分析样本的成分的这种自动分析器中,自动分析器显示其出现点,然后显示原因候选,该候选原因是与故障相对应的发生原因的候选者。如果完成了一致性输入,表明显示的候选原因是发生原因,则此自动分析器将显示发生原因的处理方法。;版权:(C)2008,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2008032493A

    专利类型

  • 公开/公告日2008-02-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OLYMPUS CORP;

    申请/专利号JP20060205218

  • 发明设计人 FUJITA YASUHIKO;

    申请日2006-07-27

  • 分类号G01N35/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 20:24:04

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