机译:形成场效应晶体管的方法,形成场效应晶体管门的方法,形成包含晶体管门阵列和电路栅极周界的集成电路的方法,以及形成网格的方法,其中包含由网格组成的集成网格并包含网格隔离门
公开/公告号KR20080083202A
专利类型
公开/公告日2008-09-16
原文格式PDF
申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;
申请/专利号KR20087019137
申请日2008-08-04
分类号H01L21/336;H01L29/78;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 19:53:04