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METHOD FOR PROVIDING REFERENCE DATA FOR A DIAGNOSIS OF A SYSTEM DEPENDENT ON AN EVENT TRACE

机译:提供一种根据事件轨迹诊断系统相关性的参考数据的方法

摘要

The invention provides a method comprising the steps of : a) providing a system specification of the system; b) deriving a number Nl of base patterns dependent on the system specification, a base pattern representing at least one service and having a number N2 of parameterisable events and a parameterisable control section representing a control flow and/or a data flow between the events; c) selecting a number N3, wherein N3 ≤ Nl, of base patterns and providing a control structure representing a control flow and/or a data flow between the selected base patterns dependent on an event trace expected as a result of the system run; and d) providing the reference data having at least the selected base patterns and the provided control structure.
机译:本发明提供一种方法,包括以下步骤:a)提供系统的系统规格; b)导出取决于系统规范的数量为N1的基本模式,表示至少一个服务并具有数量为N2的可参数化事件的基本模式以及表示事件之间的控制流和/或数据流的可参数化控制部分; c)选择数量为N3的基本模式,其中N3≤N1,并提供表示根据系统运行结果预期的事件轨迹而在所选择的基本模式之间的控制流和/或数据流的控制结构; d)提供至少具有选择的基本图案和提供的控制结构的参考数据。

著录项

  • 公开/公告号WO2008148670A1

    专利类型

  • 公开/公告日2008-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;ULRICH ANDREAS;

    申请/专利号WO2008EP56519

  • 发明设计人 ULRICH ANDREAS;

    申请日2008-05-28

  • 分类号H04L12/24;G06F9/44;G06F11/22;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 19:21:13

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