机译:等离子反应器,用于根据预定的蚀刻条件改变感应线圈的选择性组合结构,以及使用等离子反应器的蚀刻方法,能够确保过程的均匀性
公开/公告号KR20110073676A
专利类型
公开/公告日2011-06-30
原文格式PDF
申请/专利权人 DMS CO. LTD.;
申请/专利号KR20090130381
发明设计人 KIM KEE HYUN;LEE KWANG MIN;JANG HYEOK JIN;LEE WON MOOK;PARK KUN JOO;KO SUNG YONG;CHAE HWAN KOOK;KIM MIN SHIK;
申请日2009-12-24
分类号H01L21/3065;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 17:51:35