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Method for production of silicon carbide layer, gallium nitride semiconductor device and silicon substrate

机译:碳化硅层的制造方法,氮化镓半导体装置及硅基板

摘要

A method for producing a silicon carbide layer on a surface of a silicon substrate includes the step of irradiating the surface of the silicon substrate heated in a high vacuum at a temperature in a range of from 500° C. to 1050° C. with a hydrocarbon-based gas as well as an electron beam to form a cubic silicon carbide layer on the silicon substrate surface.
机译:用于在硅衬底的表面上制造碳化硅层的方法包括以下步骤:在衬底上以500℃至1050℃的温度照射在高真空下加热的硅衬底的表面。烃基气体以及电子束在硅衬底表面上形成立方碳化硅层。

著录项

  • 公开/公告号US8216367B2

    专利类型

  • 公开/公告日2012-07-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TAKASHI UDAGAWA;

    申请/专利号US20060921929

  • 发明设计人 TAKASHI UDAGAWA;

    申请日2006-05-23

  • 分类号C30B25/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 17:27:09

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