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A plating-rinse-plating process for fabricating copper interconnects

机译:用于制造铜互连的电镀冲洗电镀工艺

摘要

An improved copper ECD process. After the copper seed layer (116) is formed, a first portion of copper film (118) is plated onto the surface of the seed layer (116). The surface of the first portion of the copper film (118) is then rinsed to equalize the organic adsorption on all sites to prevent preferential copper growth in dense areas. After rinsing, the remaining copper of the copper film (118) is electrochemically deposited.
机译:改进的铜ECD工艺。在形成铜籽晶层(116)之后,将铜膜(118)的第一部分电镀到籽晶层(116)的表面上。然后漂洗铜膜(118)的第一部分的表面,以均衡所有位置上的有机吸附,以防止铜在致密区域优先生长。冲洗后,将铜膜(118)中剩余的铜电化学沉积。

著录项

  • 公开/公告号EP1432016B1

    专利类型

  • 公开/公告日2012-08-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INC;

    申请/专利号EP20030104863

  • 发明设计人 XIA CHANGFENG;LU JIONG-PING;CHEN LINLIN;

    申请日2003-12-19

  • 分类号H01L21/288;H01L21/768;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 17:18:03

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