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APPARATUS AND METHODS OF FORMING MEMORY LINES AND STRUCTURES USING DOUBLE SIDEWALL PATTERNING FOR FOUR TIMES HALF PITCH RELIEF PATTERNING

机译:使用两次侧墙图案化两次形成半间距浮雕图案的存储器线和结构的装置和方法

摘要

present invention is 4 1/2 pitch relief (four times half pitch relief) for double patterning sidewalls apparatus for fabricating a memory line and structures using a patterned , provides methods , and systems . The present invention is the 1/ 2- pitch side wall spacer as the forming the features from the first template layer disposed on the substrate , forming a 1/ 2- pitch sidewall spacer near the feature portion , a hard mask (hardmask) and forming the features in the compact by using a second template layer , wherein the features forming the small 1/ 4- pitch near the sidewall spacers , and the 1/ 4- pitch using sidewall spacers from the conductive layer as a hardmask conductor characterized includes forming the portions . A number of additional features are disclosed. ;
机译:本发明是用于双图案化侧壁装置的4 1/2间距起伏(四倍半间距起伏),该装置用于使用图案化来制造存储线和结构,提供了方法和系统。本发明是1 / 2-间距侧壁隔离物,其是由设置在基板上的第一模板层形成特征,在特征部分附近形成1 / 2-间距侧壁隔离物,硬掩模(hardmask)并形成。通过使用第二模板层来形成压坯中的特征,其中所述特征在侧壁间隔物附近形成较小的1/4间距,并使用来自导电层的侧壁间隔物作为硬掩模导体来形成1/4间距。部分。公开了许多其他特征。 ;

著录项

  • 公开/公告号KR20120089697A

    专利类型

  • 公开/公告日2012-08-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SANDISK 3D LLC;

    申请/专利号KR20127011118

  • 发明设计人 SCHEUERLEIN ROY E.;TANAKA YOICHIRO;

    申请日2010-10-26

  • 分类号H01L21/027;H01L27/02;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:09:23

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