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Photomask blank, a photomask, a reflective mask blank and the reflective mask, as well as methods for their production

机译:光掩模坯料,光掩模,反光掩模坯料和反光掩模及其生产方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photo-mask blank capable of forming an extremely minute pattern, and to provide a photo-mask with a minute pattern formed on the photo-mask blank.;SOLUTION: A photo-mask blank comprises a thin film consisting of at least two layers on a transparent substrate. The thin film comprises: a first layer consisting of material containing tantalum, nitrogen, and xenon; and a second layer consisting of material containing tantalum, oxygen and argon laminated on an upper surface of the first layer.;COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种能够形成极其微小的图案的光掩模坯料,并且提供一种在光掩模坯料上形成有微小图案的光掩模。在透明基材上由至少两层组成的薄膜。该薄膜包括:第一层,该第一层由包含钽,氮和氙的材料组成; COPYRIGHT:(C)2013,JPO&INPIT;第二层是由钽,氧和氩材料构成的第二层,层压在第一层的上表面。

著录项

  • 公开/公告号JP5681668B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-03-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HOYA株式会社;

    申请/专利号JP20120123512

  • 发明设计人 野澤 順;

    申请日2012-05-30

  • 分类号G03F1/54;G03F1/24;H01L21/027;H01L21/3065;C23C14/06;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 15:31:35

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