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Asymmetric source-drain field-effect transistor having a mixed schottky/P-N junction and method of making

机译:具有混合肖特基/ pn结的不对称源漏场效应晶体管及其制造方法

摘要

The present invention is related to microelectronic device technologies. A method for making an asymmetric source-drain field-effect transistor is disclosed. A unique asymmetric source-drain field-effect transistor structure is formed by changing ion implantation tilt angles to control the locations of doped regions formed by two ion implantation processes. The asymmetric source-drain field-effect transistor has structurally asymmetric source/drain regions, one of which is formed of a P-N junction while the other one being formed of a mixed junction, the mixed junction being a mixture of a Schottky junction and a P-N junction.
机译:本发明涉及微电子器件技术。公开了一种用于制造不对称的源极-漏极场效应晶体管的方法。通过改变离子注入倾斜角来控制由两个离子注入工艺形成的掺杂区的位置,可以形成独特的非对称源漏场效应晶体管结构。不对称的源极-漏极场效应晶体管具有结构上不对称的源极/漏极区,其中一个由PN结形成,而另一个由混合结形成,混合结是肖特基结和PN的混合物交界处。

著录项

  • 公开/公告号US8969160B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-03-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 YINGHUA PIAO;DONGPING WU;SHILI ZHANG;

    申请/专利号US201113641086

  • 发明设计人 YINGHUA PIAO;DONGPING WU;SHILI ZHANG;

    申请日2011-04-19

  • 分类号H01L29/00;G01N27/403;H01L27/108;H01L21/70;H01L29/78;H01L21/265;H01L29/66;H01L29/45;H01L29/47;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:17:47

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