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PLASMA SPECTROSCOPIC ANALYSIS METHOD AND PLASMA SPECTROSCOPIC ANALYSIS APPARATUS

机译:等离子体光谱分析方法和等离子体光谱分析装置

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a simple plasma spectroscopic analysis method with high analysis sensitivity.SOLUTION: A plasma spectroscopic analysis method includes: a concentration process of applying voltage to a pair of electrodes in the presence of a specimen, so as to concentrate an analysis object in the specimen in the vicinity of at least one of the electrodes; and a detection process of generating plasma by applying voltage to the pair of electrodes, so as to detect the light emission of the analysis object caused by the plasma.SELECTED DRAWING: Figure 2
机译:解决的问题:提供一种简单的具有高分析灵敏度的等离子体光谱分析方法。解决方案:等离子体光谱分析方法包括:在样品存在的情况下对一对电极施加电压的浓缩过程,以便浓缩样品中至少一个电极附近的分析物;以及通过在一对电极上施加电压来产生等离子体以检测由等离子体引起的分析对象的发光的检测过程。图2

著录项

  • 公开/公告号JP2016130734A

    专利类型

  • 公开/公告日2016-07-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ARKRAY INC;

    申请/专利号JP20160003555

  • 发明设计人 SHIRAKI HIROAKI;OKAI HITOSHI;

    申请日2016-01-12

  • 分类号G01N21/67;H05H1/24;H01J49/28;G01N21/66;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 14:47:12

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