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INTERFACIAL BONDING FORCE EVALUATION METHOD

机译:界面结合力评估方法

摘要

The present invention relates to a method of evaluating an interfacial bonding force. According to the present invention, a method of evaluating the interfacial bonding force comprises: a step of measuring a maximum indentation load (L_max) and a maximum indentation depth (h_max); a step of calculating a hardness (H_s) of the substrate, a hardness (H_f) of the thin film, a complex hardness (H_c), a volume (V_s) of a plastic zone of a substrate, and a volume (V_f) of plastic zone of the thin film; a step of comparing the hardness (H_s) of the substrate with the hardness (H_f) of the thin film; a step of calculating an interface variable (x^3); and a step of calculating a work (W_adhesion) due to an interface bonding force, thereby obtaining a quantitative interface bonding force not affected by the test conditions.;COPYRIGHT KIPO 2016
机译:评价界面结合力的方法技术领域本发明涉及一种评估界面结合力的方法。根据本发明,一种评估界面结合力的方法包括:测量最大压痕载荷(L_max)和最大压痕深度(h_max)的步骤;计算基板的硬度(H_s),薄膜的硬度(H_f),复数硬度(H_c),基板的塑料区域的体积(V_s)以及体积的(V_f)的步骤薄膜的塑料区;比较基板的硬度(H_s)和薄膜的硬度(H_f)的步骤;计算接口变量(x ^ 3)的步骤;以及通过界面结合力计算功(W_adhesion)的步骤,从而获得不受测试条件影响的定量界面结合力。; COPYRIGHT KIPO 2016

著录项

  • 公开/公告号KR20160118852A

    专利类型

  • 公开/公告日2016-10-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FRONTICS. INC.;

    申请/专利号KR20150047661

  • 发明设计人 KWON DONG ILKR;KIM JONG HEONKR;

    申请日2015-04-03

  • 分类号G01N19/04;G01N3/42;G06F17/11;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 14:13:22

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