机译:角膜反射位置估计系统,角膜反射位置估计方法,角膜反射位置估计程序,瞳孔检测系统,瞳孔检测方法,瞳孔检测程序,凝视检测系统,凝视检测方法,凝视检测程序,方法和面部定向检测程序
公开/公告号EP3185211A4
专利类型
公开/公告日2018-01-24
原文格式PDF
申请/专利号EP20150833722
发明设计人 EBISAWA YOSHINOBU;
申请日2015-07-27
分类号G06T7/20;A61B3/113;G06T7/70;
国家 EP
入库时间 2022-08-21 13:16:52