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Analyte meter with basic and advanced meter preset mode selection based on structured queries

机译：基于结构化查询的基本和高级仪表预设模式选择分析仪

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摘要

Described are methods and systems to allow users to select a basic mode or an advanced mode in which additional features can be customized for the user based on structured queries presented to the user.

机译：描述了允许用户选择基本模式或高级模式的方法和系统，其中可以基于呈现给用户的结构化查询来为用户定制附加特征。

著录项

公开/公告号US9826925B2

专利类型
公开/公告日2017-11-28

原文格式PDF
申请/专利权人 LIFESCAN INC.;
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申请/专利号US201213689446
发明设计人 SWETA CHOVANDA;SHAWN BERVEN;
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申请日2012-11-29
分类号A61B5/145;A61B5/00;
国家 US
入库时间 2022-08-21 12:55:01

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