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Intelligent CAA failure pre-diagnosis method and system for design layout

机译:设计布局的智能化caa故障预诊断方法及系统

摘要

The instant disclosure provides an intelligent CAA (Critical Area Analysis) failure pre-diagnosis system and method for a design layout. The intelligent CAA failure pre-diagnosis method includes the steps of obtaining a design layout of an object and defining at least one layout region having a layout pattern thereon, obtaining a plurality of defects, comparing the defects one-by-one to a predetermined portion of the layout pattern in the order of their sizes, and calculating a CAA failure risk level of the layout region according to the comparison result.
机译:本公开提供了一种用于设计布局的智能CAA(关键区域分析)故障预诊断系统和方法。该智能CAA故障预诊断方法包括以下步骤:获得对象的设计布局;定义至少一个在其上具有布局图案的布局区域;获得多个缺陷;将缺陷与预定部分进行一对一比较。根据布局图的大小顺序排列布局图案,并根据比较结果计算布局区域的CAA失效风险等级。

著录项

  • 公开/公告号US10409924B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ELITE SEMICONDUCTOR INC.;

    申请/专利号US201715684929

  • 发明设计人 IYUN LEU;

    申请日2017-08-23

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:12:03

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