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机译:未知偏差检测
公开/公告号US2018341637A1
专利类型
公开/公告日2018-11-29
原文格式PDF
申请/专利权人 MICROSOFT TECHNOLOGY LICENSING LLC;
申请/专利号US201715604549
发明设计人 NAVEEN GAUR;PRIYANKA SUBHASH KULKARNI;ERIKA DEBRA MENEZES;WENLEI ZHANG;
申请日2017-05-24
分类号G06F17/27;G06F17/24;G06F17/21;
国家 US
入库时间 2022-08-21 12:04:41
机译: 边缘检测偏差校正值计算方法,边缘检测偏差校正方法和边缘检测偏差校正程序
机译: 磁偏置膜,使用该磁偏置膜的磁检测元件,磁检测装置以及该磁偏置膜的制造方法。