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GAP-FILLING METHOD FOR HIGH ASPECT RATIO STRUCTRUE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING SAME

机译:高纵横比结构的间隙填充方法和使用相同方法制造半导体器件的方法

摘要

The present technology relates to a gap-filling method capable of gap-filling horizontal and vertical recesses having a high aspect ratio without voids. A high aspect ratio structure gap-filling method comprises: a step of forming a gap-filling target structure comprising a recess; a step of forming a first layer having a first opening in the recess; a step of exposing the first layer to an oxidation process to form an oxide of the first layer which seals an inlet of the first opening; a step of selectively removing the oxide of the first layer to form a second opening having a wider inlet than that of the first opening; and a step of forming a second layer gap-filling the second opening.;COPYRIGHT KIPO 2020
机译:本技术涉及一种间隙填充方法,其能够间隙填充具有高纵横比的水平和垂直凹部而没有空隙。一种高纵横比结构的间隙填充方法,包括:形成包括凹陷的间隙填充靶结构的步骤;在凹槽中形成具有第一开口的第一层的步骤;将第一层暴露于氧化过程以形成第一层的氧化物的步骤,该氧化物密封第一开口的入口;选择性地去除第一层的氧化物以形成第二开口的步骤,该第二开口的入口比第一开口的入口宽。并形成第二层间隙填充第二开口的步骤。COPYRIGHT KIPO 2020

著录项

  • 公开/公告号KR20200007594A

    专利类型

  • 公开/公告日2020-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SK HYNIX INC.;

    申请/专利号KR20180081881

  • 发明设计人 PARK IN SU;LEE KI HONG;

    申请日2018-07-13

  • 分类号H01L21/768;H01L29/423;H01L29/66;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 11:08:04

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