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基于外差式激光干涉仪的纳米静态锁定定位方法

摘要

本发明涉及一种基于外差式激光干涉仪的纳米静态锁定定位方法。传统的定位方法精度不高。本发明中的双频激光器输出两频差为的正交线偏振光,入射到光学镜组,构成外差式双频激光干涉仪。双频激光干涉仪作为微位移监测单元,实时监测微动工作台偏移锁定位置所发生的位移,同时双频激光干涉仪输出测量光,双频激光器输出参考光,测量光和参考光经光电转换后进行鉴相电路,鉴相后输出与相位差相对应的模拟电压,作为控制电压驱动微动工作台的移动。本发明省却相位差转换为位移的环节,减少了误差项,使得系统装置简单易行,且大大提高了系统的频率响应及定位精度。

著录项

  • 公开/公告号CN101968658B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量学院;

    申请/专利号CN201010295455.2

  • 申请日2010-09-27

  • 分类号

  • 代理机构杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人杜军

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-17

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G05D 3/12 授权公告日:20120711 终止日期:20180927 申请日:20100927

    专利权的终止

  • 2012-07-11

    授权

    授权

  • 2012-07-11

    授权

    授权

  • 2011-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G05D3/12 申请日:20100927

    实质审查的生效

  • 2011-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G05D 3/12 申请日:20100927

    实质审查的生效

  • 2011-02-09

    公开

    公开

  • 2011-02-09

    公开

    公开

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