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一种基于扇区的闪存坏块屏蔽方法

摘要

一种基于扇区的闪存坏块屏蔽方法,包括以下步骤:扫描闪存各物理块,获得各物理块内各物理页相应的扇区状态;确定该物理块扇区模式,该扇区模式表示实际有效扇区的分布情况和数目;将扇区模式相同的物理块分在同一个组;通过所述偏移量获得该分组的虚拟块号、物理页号、页内虚拟扇区偏移量;根据所述分组的虚拟块号并结合物理块编号表获得应用层访问的物理块号,根据所述页内虚拟扇区偏移量并结合该物理块号的扇区模式获得所述页内虚拟扇区偏移量对应的页内物理扇区偏移量。本发明把存在坏扇区的物理层映射成连续线性存储介质,从而最大限度的扩大存储介质有效容量。

著录项

  • 公开/公告号CN101944065B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州国芯科技有限公司;

    申请/专利号CN201010260306.2

  • 申请日2010-08-24

  • 分类号

  • 代理机构苏州创元专利商标事务所有限公司;

  • 代理人马明渡

  • 地址 215011 江苏省苏州市高新区竹园路209号苏州创业园3号楼2301

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-21

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G06F 12/02 变更前: 变更后: 申请日:20100824

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2012-07-04

    授权

    授权

  • 2012-07-04

    授权

    授权

  • 2011-03-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F12/02 申请日:20100824

    实质审查的生效

  • 2011-03-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 12/02 申请日:20100824

    实质审查的生效

  • 2011-01-12

    公开

    公开

  • 2011-01-12

    公开

    公开

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