首页> 中国专利> 激光等离子体参数的测量装置及其测量方法

激光等离子体参数的测量装置及其测量方法

摘要

一种激光等离子体参数的测量装置及其测量方法。测量装置中激光等离子体的软X射线源的泵浦源是激光器,探测元件和单色扫描狭缝同时置放在带有自动同步控制装置的调整架上。激光器与软X射线源之间的分束镜将反射光束t射到外触发器上,同时触发存储示波器、探测元件以及自动同步控制装置同时进入工作状态。测量方法是光谱还原法,解谱方法具体有三个步骤,在数据存储器中有完整的程序包。具有结构紧凑、体积小、测量精度高。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-02-22

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 2002-02-13

    授权

    授权

  • 2000-07-19

    公开

    公开

  • 1999-12-01

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号