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有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法

摘要

本发明提供一种有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法、和显示装置的检查方法。包括:第一检查配线(70、75),该第一检查配线(70、75)能够向第一开关元件(69、74)中的互不相邻的第一开关元件输入检查信号,并且能够向第二开关元件(69、74)中的互不相邻的第二开关元件输入检查信号;和第二检查配线(72、77),该第二检查配线(72、77)能够向第一开关元件(69、74)中的不连接第一检查配线且互不相邻的第一开关元件输入检查信号,并且能够向第二开关元件(69、74)中的不连接第一检查配线且互不相邻的第二开关元件(69、74)输入检查信号。

著录项

  • 公开/公告号CN101999095B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 夏普株式会社;

    申请/专利号CN200980112925.2

  • 申请日2009-04-28

  • 分类号G02F1/1368(20060101);G09F9/00(20060101);G09F9/30(20060101);

  • 代理机构11322 北京尚诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人龙淳

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-09

    授权

    授权

  • 2011-05-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F 1/1368 申请日:20090428

    实质审查的生效

  • 2011-03-30

    公开

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