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利用选择性生长的可逆电阻切换元件的存储器单元以及形成该存储器单元的方法

摘要

提供了一种形成存储器单元的方法,包括:(1)在衬底上方形成第一导体(206);(2)利用选择性生长工艺在第一导体上方形成可逆电阻切换元件;(3)在第一导体上方形成二极管(204);以及(4)在二极管和可逆电阻切换元件上方形成第二导体(208)以获得交叉点存储器件。切换元件也可以通过一个TFT控向。切换元件包含难以刻蚀的材料如TiO2,并且该切换元件不是通过刻蚀该材料形成的,而是通过氧化其它的材料如Ti或者TiN形成的。

著录项

  • 公开/公告号CN101720508B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 桑迪士克3D公司;

    申请/专利号CN200880022667.4

  • 发明设计人 A·谢瑞克;S·B·赫纳;M·克拉克;

    申请日2008-06-27

  • 分类号

  • 代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵蓉民

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-10

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 27/102 变更前: 变更后: 申请日:20080627

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2016-06-15

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 27/102 登记生效日:20160525 变更前: 变更后: 申请日:20080627

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-05-23

    授权

    授权

  • 2010-07-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/102 申请日:20080627

    实质审查的生效

  • 2010-06-02

    公开

    公开

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