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测量细胞的物理性质值的方法和物理性质测量设备

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摘要

本发明提供测量细胞的物理性质值的方法和物理性质测量设备。首先，对作为测量对象的细胞的形状进行模拟，并且，通过数值分析获得在对细胞施加交流电场时的复数电容率响应(步骤S1)。在改变膜电容C

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2016-09-21

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 22/00 授权公告日:20120502 终止日期:20150728 申请日:20080728

专利权的终止
2012-05-02

授权

授权
2010-09-08

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 22/00 申请日:20080728

实质审查的生效
2010-07-07

公开

公开

1. 测量细胞的物理性质值的方法和物理性质测量设备 [P] . 中国专利： CN101772700B . 2012.05.02
2. TFT 液晶面板的物理性质测量方法及TFT 液晶面板的物理性质测量装置 [P] . 中国专利： CN104181711B . 2017.04.12
3. APPARATUS FOR EVALUATING PHOTOPHYSICAL PROPERTIES, METHOD OF APPLYING LIGHT FOR EVALUATION OF PHOTOPHYSICAL PROPERTIES, MEASURING METHOD FOR THE SAME AND METHOD OF MEASURING LUMINESCENCE FOR THE SAME [P] . 日本专利： JPH0634545A . 1994-02-08

机译：用于评价光物理性质的设备，用于评价光物理性质的光的方法，用于该方法的测量方法以及用于该方法的发光量的测量方法
4. Thermophysical property measurement method and thermophysical property measurement apparatus [P] . 美国专利： US10088439B2 . 2018-10-02

机译：热物理性质测量方法和热物理性质测量设备
5. High-precision analyte measurement of electrochemical test strips to determine analyte measurement time based on measurement temperature, physical properties, and estimated analyte values, and their temperature compensation values [P] . 日本专利： JP2017532552A . 2017-11-02

机译：电化学试纸条的高精度分析物测量，可根据测量温度，物理性质，估算的分析物值及其温度补偿值确定分析物测量时间