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校准方法、校准装置及具备该校准装置的校准系统

摘要

本发明提供在拍摄图像中包含许多透镜像差的测距装置中的高精度的校准方法等。一种推断表示复眼测距装置(3)具有的各摄像系统的特性的摄像机参数的校准方法,其包括:表示排列有多个要素的几何学图案,并且,拍摄配置成与复眼测距装置(3)成为预定的位置关系的基准图(30)的拍摄步骤;在拍摄的基准图(30)的拍摄图像中,修正由透镜像差引起的亮度分布的像差亮度修正步骤;在修正亮度分布的拍摄图像中,作为特征点位置计算多个要素的各重心位置的特征点位置计算步骤;利用在特征点位置计算步骤计算出的特征点位置和基准图(30)中的实际的大致重心位置,推断摄像机参数的摄像机参数推断运算步骤。

著录项

  • 公开/公告号CN101755190B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN200980000577.X

  • 发明设计人 大山一朗;今村典广;

    申请日2009-05-19

  • 分类号G01C3/00(20060101);H04N5/232(20060101);G01C3/06(20060101);H04N13/02(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人许玉顺;胡建新

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01C 3/00 授权公告日:20120222 终止日期:20130519 申请日:20090519

    专利权的终止

  • 2012-02-22

    授权

    授权

  • 2010-08-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 3/00 申请日:20090519

    实质审查的生效

  • 2010-06-23

    公开

    公开

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