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基于金汞齐中高频交流电流变化测量汞含量的方法

摘要

本发明公开了一种基于金汞齐中高频交流电流变化的测量汞含量的方法,其特征在于:在设定的时间和温度条件下,一定流速的含汞大气通过含有金丝的汞探测器时,汞首先在金丝表面形成金汞齐,导致金丝的表面电阻发生变化,利用高频交流电流的“趋肤”特性,采用交流电桥检测高频电流的变化;根据高频电流的变化可得到大气汞含量。本发明的测量汞含量方法,测量用的汞探测器是利用金汞齐中电阻变化导致电流变化的原理来测定大气中汞含量,省略了冷原子吸收法和原子荧光法中的光电转换过程,选择性好,抗干扰能力强;容易实现大气汞污染的个体检测和实时检测,以适应快速、在线检测的需要;与金膜探测器相比,不需要复杂的镀膜工艺。

著录项

  • 公开/公告号CN101403719B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆理工大学;

    申请/专利号CN200810233026.5

  • 申请日2008-11-11

  • 分类号

  • 代理机构重庆博凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人李晓兵

  • 地址 400054 重庆市巴南区李家沱红光大道69号

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-31

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 27/12 授权公告日:20120125 终止日期:20131111 申请日:20081111

    专利权的终止

  • 2012-01-25

    授权

    授权

  • 2012-01-04

    著录事项变更 IPC(主分类):G01N 27/12 变更前: 变更后: 申请日:20081111

    著录事项变更

  • 2009-06-03

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-04-08

    公开

    公开

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