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一种氧化锌压敏电阻单晶界冲击老化特性的测试方法

摘要

本发明涉及一种氧化锌压敏电阻单晶界冲击老化特性的测试方法,属于精细电工材料的定量分析技术领域。将将被测样品磨平并抛光,在样品表面沉积微型银电极阵列,利用精密微探针平台和光学显微镜观察,使针尖与样品上的微电极紧密接触,测量单个氧化锌晶界的伏安特性曲线;对样品施加多次冲击电流作用,测量样品在承受电流冲击的不同阶段单个晶界的伏安特性曲线数据;最后计算出该晶界所对应的非线性系数、击穿电压和泄漏电流等参数,并得到冲击电流对单个晶界特性的影响规律。本方法更为直观地展现出晶界的老化规律,为氧化锌压敏电阻导电机理、老化机理和改性研究提供了更为新颖的测试分析手段。

著录项

  • 公开/公告号CN101858946B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201010166376.1

  • 申请日2010-05-07

  • 分类号G01R31/00(20060101);G01R31/12(20060101);G01R19/00(20060101);

  • 代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人罗文群

  • 地址 100091 北京市海淀区清华园1号

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-01-11

    授权

    授权

  • 2010-11-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20100507

    实质审查的生效

  • 2010-10-13

    公开

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