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液晶显示器亮点或暗点检测方法及其装置

摘要

本发明涉及一种液晶显示器亮点或暗点检测方法及其装置。检测方法包括:向彩膜公共电极加载第一检测电压,在彩膜公共电极与像素电极之间形成第一电压差;发现亮点或暗点后,采集亮点或暗点的第一亮度值;将加载在彩膜公共电极上的第一检测电压切换成第二检测电压,在彩膜公共电极与像素电极之间形成第二电压差;采集亮点或暗点的第二亮度值;判断第一亮度值与第二亮度值之间的差距,当|第一亮度值-第二亮度值|≤A时,确定亮点或暗点为盒内不良;当|第一亮度值-第二亮度值|≥B时,确定亮点或暗点为阵列基板不良。本发明可明确区分出盒内不良或阵列基板不良,为不良分析和维修提供有利的依据,从而有效避免了产品废弃,降低了损失。

著录项

  • 公开/公告号CN101661169B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-12-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京京东方光电科技有限公司;

    申请/专利号CN200810119137.3

  • 发明设计人 李丽;彭志龙;

    申请日2008-08-27

  • 分类号G02F1/13(20060101);G02F1/133(20060101);G09G3/36(20060101);

  • 代理机构11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司;

  • 代理人曲鹏

  • 地址 100176 北京市经济技术开发区西环中路8号

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-31

    专利权的转移 IPC(主分类):G02F 1/13 变更前: 变更后: 登记生效日:20141209 申请日:20080827

    专利申请权、专利权的转移

  • 2011-12-28

    授权

    授权

  • 2010-04-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F 1/13 申请日:20080827

    实质审查的生效

  • 2010-03-03

    公开

    公开

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