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采用三环法测量导电环接触电阻的方法

摘要

采用三环法测量导电环接触电阻的方法,属于电学测试计量领域,其特点在于:将导电环三环分为一组,将导电环旋转部分的三条引线短接,固定部分的两条引线分别接入恒定的电流信号,采用电压测试仪器测量另一条引线和接入信号的两条引线中任一引线两端间的电压,根据欧姆定律由测得电压值范围和接入电流值即可计算出导电环的接触电阻值范围,此电阻值范围即为导电环的动态接触电阻。本发明解决了目前导电环动态接触电阻测量工作中存在的导线缠绕问题,并且可以得到每一环的动态接触电阻。

著录项

  • 公开/公告号CN101021558B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN200710064688.X

  • 发明设计人 姜彬;范天泉;曹学东;

    申请日2007-03-23

  • 分类号G01R27/14(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人贾玉忠;卢纪

  • 地址 610209 四川省双流350信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-11

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 27/14 授权公告日:20110511 终止日期:20150323 申请日:20070323

    专利权的终止

  • 2011-05-11

    授权

    授权

  • 2008-11-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-08-22

    公开

    公开

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