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制备具有掩埋掺杂区的半导体器件的方法

摘要

一种不需要设置外延沉积层而提供掺杂半导体区(40)的方法,该半导体掺杂区掩埋在半导体衬底(10)表面下。所述方法包括在半导体衬底中形成第一和第二沟槽部分(26,28),然后将掺杂剂(100)引入沟槽部分内,并将掺杂剂扩散进入半导体衬底中,以形成掺杂半导体区(40),该掺杂半导体区从第一沟槽部分延伸至第二沟槽部分。在衬底中与掺杂沟槽相邻,设置例如由两个阻挡沟槽(16,18)形成的扩散阻挡部分,以便在掺杂半导体区上方维持未掺杂区(30)。有利地,通过改变掺杂沟槽和扩散阻挡部分的深度和尺寸/间隔、掺杂和扩散参数,可调整掩埋层的电性能。随后可使用多晶硅填充掺杂沟槽,以提供与掩埋掺杂区的电接触。

著录项

  • 公开/公告号CN101147251B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NXP股份有限公司;

    申请/专利号CN200680009580.4

  • 发明设计人 吉勒·费鲁;泽格·巴尔迪;

    申请日2006-03-21

  • 分类号

  • 代理机构北京天昊联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈源

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/74 授权公告日:20101208 终止日期:20110321 申请日:20060321

    专利权的终止

  • 2010-12-08

    授权

    授权

  • 2008-05-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-03-19

    公开

    公开

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