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一种基于光学剪切的二维光学应变花测量方法

摘要

一种基于光学剪切的二维光学应变花测量方法,该测量方法首先采用热压印方法在被测物体表面制作矩形光学应变花标记,在测量光路中放置四棱锥镜,引入光学剪切量,形成具有剪切量的图像,根据数字相关方法计算具有剪切量的图像中光学应变花的4个标记点的位移,根据有限元方法计算应变花区域的应变。本发明有效提高了图像质量,改善了数字相关方法的应变求解区域不大的问题,可以实现操作简单方便,在复杂工作环境下进行现场实时的高精度大区域的无损测量。

著录项

  • 公开/公告号CN101514890B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN200910131922.5

  • 申请日2009-03-27

  • 分类号

  • 代理机构北京鸿元知识产权代理有限公司;

  • 代理人邸更岩

  • 地址 100084 北京市100084信箱82分箱清华大学专利办公室

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/16 授权公告日:20101110 终止日期:20160327 申请日:20090327

    专利权的终止

  • 2010-11-10

    授权

    授权

  • 2009-10-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-08-26

    公开

    公开

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