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特征提取方法、装置与模式识别方法、装置

摘要

本发明公开了一种特征提取方法,该方法包括步骤:获得包含多于一个类别的样本的样本矩阵的第一类间散度矩阵和第一类内散度矩阵的差值矩阵的第一预定数目的最大特征值所对应的特征向量组成的单方向投影矩阵,将所述样本矩阵投影到单方向投影矩阵上得到单方向特征样本矩阵;获得单方向特征样本矩阵的转置矩阵的第二类间散度矩阵和第二类内散度矩阵的差值矩阵的第二预定数目的最大特征值所对应的特征向量组成的双方向投影矩阵,将所述单方向特征样本矩阵的转置矩阵投影到所述双方向投影矩阵上得到双方向特征样本。本发明还公开了一种特征提取装置以及模式识别方法与装置。应用本发明实施例所述方法与装置可以提高特征提取和模式识别的稳定性及速度。

著录项

  • 公开/公告号CN100589118C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2010-02-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京中星微电子有限公司;

    申请/专利号CN200710178410.5

  • 发明设计人 王磊;邓亚峰;黄英;

    申请日2007-11-29

  • 分类号G06K9/62(20060101);G06K9/00(20060101);

  • 代理机构11018 北京德琦知识产权代理有限公司;

  • 代理人宋志强;麻海明

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-02-10

    授权

    授权

  • 2008-06-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-04-09

    公开

    公开

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