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端点检测装置和方法以及具有该装置的等离子体反应器

摘要

本发明提供一种端点检测装置、一种具有所述端点检测装置的等离子体反应器、以及一种端点检测方法。所述端点检测装置包括OES数据运算单元、数据选择器、乘积发生器、SVM、以及端点测定器。所述OES数据运算单元利用标准化及PCA来处理参考OES数据。所述数据选择器选择一部分所述多个线性参考负载向量并选择一部分经选定的所述多个线性参考负载向量。所述乘积发生器输出至少一参考乘积值。所述SVM作回归并输出预测乘积值。所述端点测定器检测加工晶圆蚀刻或沉积端点并输出检测信号。

著录项

  • 公开/公告号CN100583392C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2010-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 显示器生产服务株式会社;

    申请/专利号CN200810084662.6

  • 申请日2008-03-14

  • 分类号H01L21/00(20060101);H01L21/66(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人王英

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-11

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/00 授权公告日:20100120 终止日期:20150314 申请日:20080314

    专利权的终止

  • 2014-03-19

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/00 变更前: 变更后: 登记生效日:20140226 申请日:20080314

    专利申请权、专利权的转移

  • 2010-01-20

    授权

    授权

  • 2009-03-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-28

    公开

    公开

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