从设计缺陷中动态恢复和还原的装置、系统和方法

摘要

本发明披露了用于从集成电路中的设计缺陷恢复的装置、系统和方法。所述装置包括错误检查模块、控制设置模块、重试模块和恢复模块。所述错误检查模块发现在操作期间发生了错误。所述控制设置模块根据更改一个或多个系统信号的逻辑路径的一组系统控制设置来更改一个或多个系统控制寄存器的内容。所述重试模块执行所述操作。所述恢复模块发现成功执行了所述操作。