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平行板电容驱动的MEMS弯曲扭转疲劳实验装置

摘要

本发明是一种平行板电容驱动的MEMS弯曲扭转疲劳实验装置,属于微纳米尺度材料特性基础研究领域。该装置通过两个平行板电容驱动器(3、12)分别实现对疲劳试样(5)的弯曲和扭转驱动。疲劳试样(5)一端与接地电极(4)连接,另一端与第三平行板电容驱动器(12)的上极板连接。试样(5)中部的与其垂直的横梁的一端与第一平行板电容驱动器(3)的上极板相连,另一端与平行板电容传感器的上级板相连,平行板电容传感器的下极板通过检测电极接外部振幅检测电路从而实时的获得试样的振动幅度。本发明采用两个平行板电容驱动器分别对试样进行弯曲和扭转驱动,并且互不影响,客服了现有装置只能模拟MEMS构件单相应力工作环境的不足。

著录项

  • 公开/公告号CN100520348C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN200610114437.3

  • 申请日2006-11-10

  • 分类号G01N3/20(20060101);G01N3/08(20060101);G01M19/00(20060101);

  • 代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人沈波

  • 地址 100022 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-01-19

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 3/32 授权公告日:20090729 终止日期:20091210 申请日:20061110

    专利权的终止

  • 2009-07-29

    授权

    授权

  • 2007-06-06

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-04-11

    公开

    公开

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