一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试方法及系统

摘要

本发明公开了一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试方法及系统，根据多种测试标准相互制约进行循环迭代的校准，在多次时间周期内由通信路径状态和传输反馈函数计算得到路径信任连接概率和传输路径优化距离，构建网络连接拓扑集合确定待测芯片测试的合格状态，能有效地提高芯片的测试精度并减少测试时间，降低了测试成本；并根据最优路由路径距离计算待测芯片的信号覆盖连通范围，优化了测试效率且保证了覆盖率。