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一种星载SAR成像处理方法

摘要

一种星载合成孔径雷达成像处理方法,该方法包括分析星载合成孔径雷达成像传统双曲线斜距模型和解析推导适用边界条件,完成算法选型;去除原始回波信号中距离向冗余采样数据,通过对斜距模型误差和高次相位误差的补偿实现星载SAR高分辨大斜视数据处理,得到完全聚焦图像。本发明提供的方法结合星载SAR高分辨大斜视处理信号模型,分析了现有模型和算法的处理边界条件,对星载SAR成像处理算法选型具有一定的参考,此外,本发明通过对斜距模型误差和高次相位误差的补偿实现星载SAR高分辨大斜视数据处理,有效地解决了二维频谱严重耦合和速度空变难题,减小了距离向冗余采样,节约了运算所需资源和时间,极大地促进了星载SAR对地观测应用。

著录项

  • 公开/公告号CN111175749B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院电子学研究所;

    申请/专利号CN202010061990.5

  • 申请日2020-01-19

  • 分类号G01S13/90(20060101);G01S7/41(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人吴梦圆

  • 地址 100190 北京市海淀区北四环西路19号

  • 入库时间 2022-08-23 13:10:03

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