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使用2-PI滑动检测粗调锁相环(PLL)合成器的系统和方法

摘要

提供了一种用于在锁相环(PLL)合成器(200)中粗调至少一个压控振荡器(VCO)(211)的系统,包括相位频率检测器(PFD),用于确定VCO频率和参考频率之间的相位差,如果VCO频率和参考频率至少具有2π弧度的相位差则提供误差信号。然后一个监视器(215)用于跟踪PFD所产生的误差信号的数量。VCO的自由运行频率可以在监视器电路到达某一预定水平时被粗调。在使得PLL能够被粗调方面本发明提供了很大的好处,以使得PLL的VCO不管影响电路运行的运行因素如何都能够保持在运行范围以内。

著录项

  • 公开/公告号CN100483947C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-04-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 飞思卡尔半导体公司;

    申请/专利号CN200480004058.8

  • 申请日2004-02-04

  • 分类号H03L7/085(20060101);H03L7/089(20060101);H03L7/099(20060101);H03L7/10(20060101);H03L7/16(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人李镇江

  • 地址 美国得克萨斯

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-24

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H03L 7/085 变更前: 变更后: 申请日:20040204

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2009-04-29

    授权

    授权

  • 2009-04-29

    授权

    授权

  • 2006-05-10

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-05-10

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-03-15

    公开

    公开

  • 2006-03-15

    公开

    公开

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