公开/公告号CN109916933B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-10-01
原文格式PDF
申请/专利权人 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学;
申请/专利号CN201910007663.9
申请日2019-01-04
分类号G01N23/046(20180101);G01T1/36(20060101);G06T11/00(20060101);
代理机构41111 郑州大通专利商标代理有限公司;
代理人陈勇
地址 450000 河南省郑州市高新区科学大道62号
入库时间 2022-08-23 12:34:32
机译: 低密度X射线计算机断层成像设备检测器和能量鉴别类型匹配的检测器,用于辅助计算机X射线断层成像的散射评估,X射线计算机X射线断层成像设备及其控制方法
机译: X射线计算机断层成像方法对材料层构成的对象进行非破坏性测试的方法和X射线计算机断层扫描
机译: X射线计算机断层成像方法对材料层构成的对象进行非破坏性测试的方法和X射线计算机断层扫描