一种X荧光钴内标-ICP钴补偿检测铁料中全铁含量的方法

摘要

本发明公开了一种X荧光钴内标‑ICP钴补偿检测铁料中全铁含量的方法，采用钴内标法，通过X射线荧光法建立铁元素工作曲线，实现对铁料中全铁含量的检测，并以铁元素含量与铁元素强度和钴元素强度之比的比值，计算出钴对全铁含量的补偿系数；采用ICP光谱法建立钴元素工作曲线，实现对铁料中钴元素含量的检测；钴元素含量乘以补偿系数，并将此结果与X射线荧光法测试的全铁含量相加，即可得到待测铁料样品中的全铁含量。该方法可实现多元素同时检测，且单个样品的检测时间在18分钟内；检测速度比国标方法快了近10倍，检测成本是国标手工法的一半，检测结果误差优于国标规定范围。