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一种用蒙特卡罗统计模拟计算合成不确定度的方法

摘要

本发明涉及计量测试技术领域,尤其是涉及一种用蒙特卡罗统计模拟计算合成不确定度的方法。它包括如下步骤:a、引入测量输入量和输出量函数关系的数学模型Y=f(x1,x2,…,xn),上式中Y为输出量、x1,x2,…,xn为输入量;b、引入输入量x1,x2,…,xn不确定度的概率分布和参数;c、根据输入量x1,x2,…,xn不确定度的概率分布和参数,选择随机数ξ1,ξ2,…,ξn;d、选择对随机数ξ1,ξ2,…,ξn的检验方法;e、在计算机上进行模拟计算输出量Y、输出量Y的标准偏差和与置信水平精确相关的合成不确定度。本发明可使最终的扩展不确定度与置信水平精确关联,特别是高置信水平的扩展不确定度(置信水平95%或99%等)。这将在许多领域,如工业、商业以及卫生和安全等领域发挥很重要的作用。

著录项

  • 公开/公告号CN100442270C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海市计量测试技术研究院;

    申请/专利号CN200510028587.8

  • 发明设计人 盛克平;何宝林;杨伟浩;

    申请日2005-08-08

  • 分类号G06F17/00(20060101);

  • 代理机构31128 上海世贸专利代理有限责任公司;

  • 代理人李浩东

  • 地址 200233 上海市宜山路716号

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-10-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F 17/00 授权公告日:20081210 终止日期:20100808 申请日:20050808

    专利权的终止

  • 2008-12-10

    授权

    授权

  • 2007-04-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-02-14

    公开

    公开

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