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用于模拟辐射与结构的相互作用的方法和设备、量测方法和设备、器件制造方法

摘要

通过从观测的衍射辐射进行的重构来测量结构(900)的参数。方法包括以下步骤:(a)限定结构模型以在二维或三维模型空间中表示所述结构;(b)使用所述结构模型来模拟辐射与所述结构的相互作用;和(c)重复步骤(b)且同时变化所述结构模型的参数。沿着所述模型空间的至少第一维度(Z)将所述结构模型划分成一系列片段(a至f)。通过划分成片段,由沿着所述模型空间的至少第二维度(X)的一系列台阶(904'、906’)来近似至少一个子结构的倾斜面(904、906)。片段的数目可随着所述参数变化而动态地变化。使近似所述倾斜面的台阶的数目维持恒定。引入额外切割部(1302、1304),而不引入对应台阶。

著录项

  • 公开/公告号CN107924142B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASML荷兰有限公司;

    申请/专利号CN201680050508.X

  • 申请日2016-06-30

  • 分类号G03F7/20(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人张启程

  • 地址 荷兰维德霍温

  • 入库时间 2022-08-23 11:54:49

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