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应用于比较器的自我测试电路及自我测试方法

摘要

本案公开了应用于比较器的自我测试电路及自我测试方法。比较器的第一输出端耦接第一反相器的输入端,比较器的第二输出端耦接第二反相器的输入端。比较器根据时脉操作于重置阶段或比较阶段。自我测试方法包含:耦接第一输出端及第二输出端,使比较器进入测试模式;以及使比较器于测试模式下依据时脉操作于重置阶段或比较阶段。在测试模式下,该第一输出端与该第二输出端具有实质上相同的电压。本案应用于比较器的自我测试电路及自我测试方法能够得知比较器是否发生错误,并且可以在发现错误时选择性地调整比较器进而降低电路发生错误的几率。

著录项

  • 公开/公告号CN110031752B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 瑞昱半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN201810026927.0

  • 发明设计人 雷良焕;黄诗雄;陈志龙;

    申请日2018-01-11

  • 分类号G01R31/317(20060101);

  • 代理机构72003 隆天知识产权代理有限公司;

  • 代理人李昕巍;郑特强

  • 地址 中国台湾新竹市

  • 入库时间 2022-08-23 11:50:24

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