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一种基于广度学习系统的显著性检测方法及装置

摘要

本发明涉及一种基于广度学习系统的显著性检测方法及装置,其中方法包括:步骤S1:将图像分割为多个超像素点,提取每个超像素的颜色,位置,纹理,先验和对比度信息,并得到各超像素的特征向量;步骤S2:基于得到的各超像素的特征向量对图像进行处理,得到初始显著图;步骤S3:对初始显著图建立条件随机场模型,并使用基于广度学习的回归计算条件随机场中的核矩阵,将得到的最优解作为优化后的显著图;步骤S4:使用得到的优化后的显著图用于视觉跟踪,图像分类、图像分割、目标识别,图像视频压缩,图像检索或图像重定向。与现有技术相比,本发明在特征提取阶段,结合了颜色特征,空间特征,纹理特征,先验特征和对比特征,提高检测效果。

著录项

  • 公开/公告号CN110135435B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海师范大学;

    申请/专利号CN201910308906.2

  • 申请日2019-04-17

  • 分类号G06K9/46(20060101);G06K9/62(20060101);

  • 代理机构31225 上海科盛知识产权代理有限公司;

  • 代理人蔡彭君

  • 地址 200234 上海市徐汇区桂林路100号

  • 入库时间 2022-08-23 11:49:03

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