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可用来判断参考物件或光源相对位置的光学侦测装置

摘要

本发明是公开一种可根据一光源发出之一侦测光讯号透过一参考物件产生的一反射光讯号来判断该参考物件或该光源相对位置的光学侦测装置。该光学侦测装置包含有一透光元件、至少一不透光结构以及一光学侦测元件。该透光元件之一焦距是大于一预定距离。该不透光结构相对该透光元件位于特定位置。该光学侦测元件以间隔该预定距离之方式邻设于该透光元件。该反射光讯号通过该透光元件投射到该光学侦测元件之一侦测面,该不透光结构阻挡部份的该反射光讯号而在该侦测面形成一特征影像,并根据该特征影像之一参数判断该参考物件或该光源的相对位置。

著录项

  • 公开/公告号CN107765258B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 原相科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201610701434.3

  • 发明设计人 锺庆霖;林典立;

    申请日2016-08-22

  • 分类号G01S17/06(20060101);G01S17/08(20060101);G01S17/50(20060101);G01S17/58(20060101);

  • 代理机构44287 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所;

  • 代理人胡海国

  • 地址 中国台湾新竹科学工业园区

  • 入库时间 2022-08-23 11:31:17

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