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公开/公告号CN110596012B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-01-15
原文格式PDF
申请/专利权人 华中科技大学;
申请/专利号CN201910875400.X
发明设计人 王惊雷;王双保;
申请日2019-09-17
分类号G01N21/21(20060101);G01N21/01(20060101);
代理机构11901 北京盛询知识产权代理有限公司;
代理人陈巍
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞瑜路1037号
入库时间 2022-08-23 11:29:17
机译: 用于偏振调制的光学部件,包含这种光学部件的缪勒偏振计和椭偏仪,该椭偏仪的校准过程以及椭偏测量过程
机译: 椭偏仪和椭偏仪,形式测量方法以及半导体装置的制造
机译: 椭偏和椭偏仪,形状测量方法和半导体装置的制造
机译:使用二调制器广义椭偏镜的正入射广义椭偏仪
机译:使用二调制器广义椭偏显微镜的正入射广义椭偏仪
机译:广义椭偏仪中任意磁光材料光学特性的显式解
机译:X射线椭偏仪(XME):一种新颖的椭偏技术,可完全表征薄膜-基材系统
机译:一种高通量方法,可使用电子探针和光谱椭偏仪定量分析蛋白质在组合金属/金属氧化物表面上的吸附。
机译:高吞吐量利用小分子微阵列和基于椭偏仪特殊光学扫描仪结合蛋白配体标记筛选小分子化合物库
机译:极限椭偏仪的设计和构造,以及溶胶-凝胶衍生的电光和磁光薄膜的评估。
机译:磁光椭偏仪。第二部分。实验装置