公开/公告号CN110672304B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-11-03
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院西安光学精密机械研究所;
申请/专利号CN201910759286.4
申请日2019-08-16
分类号G01M11/02(20060101);G01M11/00(20060101);
代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;
代理人汪海艳
地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
入库时间 2022-08-23 11:20:24
机译: 光路特性的分析方法,光路测试系统和光路测试监控系统
机译: 用于校准天线测试系统的测试系统,用于校准天线测试系统的方法以及用于确定测试对象的无源互调特性的方法
机译: 校准方法及移动通信终端测试系统