首页> 中国专利> 基于电光效应的单片集成光学加速度计

基于电光效应的单片集成光学加速度计

摘要

本发明公开了一种基于电光效应的单片集成光学加速度计。包括位于封装外壳内的宽谱光源、模斑转换器、马赫曾德干涉仪结构、光电探测器、上电极、下电极、铌酸锂单晶薄膜层、二氧化硅缓冲层、硅衬底、弹簧振子结构、静电力反馈模块和制冷片,马赫曾德干涉仪结构由1:2型Y波导、2:1型Y波导构成;宽谱光源的光通过模斑转换器耦合进入1:2型Y波导后被分为两束光,两束光经1:2型Y波导的两个分支端进入2:1型Y波导,最后直接耦合进入耦合进入光电探测器中。本发明相比分立器件而言降低了加速度计传感器的体积,集成度高、精度高、抗电磁干扰、能在恶劣环境下工作、制备工艺简单、易于封装。

著录项

  • 公开/公告号CN110133322B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201910391747.7

  • 申请日2019-05-13

  • 分类号

  • 代理机构杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人林超

  • 地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2022-08-23 11:10:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-25

    授权

    授权

  • 2019-09-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01P15/093 申请日:20190513

    实质审查的生效

  • 2019-08-16

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号