首页> 中国专利> 一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法

一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法

摘要

本发明公开了一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法,所述短波红外焦平面自适应非均匀校正算法使用logistics函数结合短波红外焦平面非均匀性模型对焦平面的非均匀性进行回归估计求出非均匀性校正系数,达到校正的目的。

著录项

  • 公开/公告号CN108225570B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京华科德科技有限公司;

    申请/专利号CN201711497395.0

  • 发明设计人 周津同;

    申请日2017-12-31

  • 分类号G01J5/00(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 102200 北京市昌平区科技园区超前路35号北京化工大学科技园综合楼301-304室

  • 入库时间 2022-08-23 10:48:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-14

    授权

    授权

  • 2018-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/00 申请日:20171231

    实质审查的生效

  • 2018-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20171231

    实质审查的生效

  • 2018-06-29

    公开

    公开

  • 2018-06-29

    公开

    公开

  • 2018-06-29

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号