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一种远距离抗金属标签天线传感器及缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种远距离抗金属标签天线传感器,主要包括介质谐振器、金属条带及标签芯片,其中,介质谐振器工作在HEM11δ模式下,金属条带位于介质谐振器的上方,标签芯片位于金属条带的中心开口处;抗金属标签天线工作时,先将抗金属标签天线置于被监测金属体的上方,同时调节抗金属标签天线的目标阻抗和标签芯片的阻抗,使抗金属标签天线的目标输入阻抗在中心频点处与标签芯片的阻抗共轭匹配,当抗金属标签天线开始检测被监测金属体时,通过观测抗金属标签的激活功率改变来确定被监测金属体是否存在缺陷,具有低成本、远距离、高精准度等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN107275750B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201710330824.9

  • 发明设计人 田贵云;张俊;高斌;

    申请日2017-05-11

  • 分类号H01Q1/22(20060101);H01Q1/36(20060101);G01N22/02(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人温利平

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 10:48:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-17

    授权

    授权

  • 2017-11-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01Q1/22 申请日:20170511

    实质审查的生效

  • 2017-11-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01Q 1/22 申请日:20170511

    实质审查的生效

  • 2017-10-20

    公开

    公开

  • 2017-10-20

    公开

    公开

  • 2017-10-20

    公开

    公开

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