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基于测距传感器的四轴测量系统坐标系与被测叶片模型坐标系的配准方法

摘要

基于测距传感器的四轴测量系统坐标系与被测叶片模型坐标系的配准方法,实现测量坐标系与被测叶片模型坐标系的精确统一,为实现截面线测量的数据分析和测量路径规划提供条件。采用的方法是,通过测距传感器进行测量获得截面线数据,采用三次B样条插值拟合曲线和放样曲面。求取重建曲面和被测叶片模型上对应曲面的主方向,进行初步配准,然后建立基于传感器信噪比的优化模型,优化得到最终结果。本发明的有益效果是:解决了四轴测量系统配准过程繁琐、自动化程度低和测量不稳定的问题。充分利用了点激光测距传感器能够直接测量强反光表面的特性,实现了复杂曲面叶片的高精度、快速测量。

著录项

  • 公开/公告号CN107702651B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 黑龙江科技大学;

    申请/专利号CN201710830286.X

  • 申请日2017-09-15

  • 分类号G01B11/02(20060101);

  • 代理机构44241 深圳市智科友专利商标事务所;

  • 代理人曲家彬

  • 地址 150022 黑龙江省哈尔滨市松北区浦源路2468号

  • 入库时间 2022-08-23 10:42:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-29

    授权

    授权

  • 2018-03-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20170915

    实质审查的生效

  • 2018-03-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20170915

    实质审查的生效

  • 2018-02-16

    公开

    公开

  • 2018-02-16

    公开

    公开

  • 2018-02-16

    公开

    公开

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