错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统

摘要

本发明公开一种错误注入测试中检测芯片敏感位置的系统，通过在错误注入攻击测试过程中，采集待测芯片的状态信号、位置信号、漏电流信号等，根据其状态信号、位置信号、漏电流信号识别确定芯片上的敏感位置区域，预生成敏感位置信息，后续在确定的敏感位置区域范围内进一步测试，并在测试过程中，对敏感位置信息进行更新、细化。本发明的系统可准确定位出芯片的敏感位置，大幅提升测试工作效率，保证测试结果的准确性、有效性。